积分球作为一种光学仪器，近一百年来被广泛应用于光度测量和辐射测量中。在许多应用中，积分球通常被用作测试CCD或CMOS等焦面阵列光电器件的均匀辐射光源。然而，由于积分球实际的制造安装、内部挡屏的几何位置、漫反射涂层的实际厚度和内部光源的几何位置等因素的影响，造成实际的积分球辐射光源开口处的照度均匀性并不理想。

另一方面，在航空和天文等领域中使用的科学级别CCD经常需要在较低的温度下工作。如果在积分球上进行器件测试，积分球内部光源的热量对器件的影响就不能忽略。因此，按照理想情况下在积分球光源出口处对光电器件进行测试是不合适的。